Loresta Series 低阻抗率计 MCP-T360| MCP-T370| MCP-T610|MCP-700​四探针探头附件中国总代理：

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四探针探头：​​

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ASP探头MCP-TP03P (RMH110)，

适合测试大多数样品

间距5mm，针尖距离0.37R×4支，压力210gf/支

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ESP探头MCP-TP08P (RMH114)

适合不规则样品测试

间距​5mm，直径2mm×4支，压力：240gf/支

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LSP探头MCP-TPLSP (RMH116)

适合柔软的表面样本测试

间距5.0mm，针尖距离2mm×4支，压力130gf/支

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​PSP探头MCP-TP06P (RMH112)​

适合​小样品或薄膜测试

间距​1.5mm，针尖距离​0.26R×4支​，压力70gf/支

QP2探头MCP-TPQP2 (RMH119)

适合微小样品测试（矩形排列）

间距1.5mm，,针尖距离0.26R​​×4支，压力70gf/支

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BSP探头MCP-TP05P(RMH111)

适合大样品测试

间距2.5mm，针尖距离0.37R×2×2​支，压力210gf/支​

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NSCP探头MCP-NSCP(RMJ202)特殊用途探针

适合Silicone wafer测试​

间距1.0mm，针尖距离0.04R×​4支，压力250gf/支

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TFP探头MCP-TFP(RMJ217)特殊用途探针

适合Thin films on Si wafer测试

间距1.0mm，针尖距离0.15R×​4支，压力50gf/支​

四探针探头检验块：​​​

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MCP-TRF1(RMH304)

ASP，ESP，LSP探头用（探头检验块用于测试前检查）​

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MCP-TRPS(RMH311)

PSP探头用（探头检验块用于测试前检查）​

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MCP-TRQP2(RMH313)

QP2探头用（探头检验块用于测试前检查）​

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MCP-TRTF(RMH312)​​

TFP，NSCP探头用（探头检验块用于测试前检查）​

二探针探头：​

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AP2探头MCP-TPAP2(RMH333)

适合测试大多数样品测试

间距10mm，针尖距离2R×​2支，压力240gf​​​/支

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BP探头MCP-TPBP(RMH118)

适合大样品测试

针尖距离2R×​2支，压力240gf​​​/支​​

二探针探头检验块：​

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MCP-TRT2(RMH335)

AP2，BP探头用（探头检验块用于测试前检查）​​

附件：​​​

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MCP-FS02(RMJ802)

脚踏开关

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MCP-ST03(RMJ354)

绝缘板

尺寸 W300×D200×H10mm​​