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膜厚计|光泽度计|辉度计
L200美国
LEE涂层测厚仪
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（Drop Tester）
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详情介绍
量程：0-600/1250/6000um
适用：测量磁性Fe基体上的非磁性涂镀层及非磁性NFe基体上所有非导电层的厚度
功能：只需调零、无需校准；特点：一体化设计
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