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膜厚计|光泽度计|辉度计
涂镀层测厚仪
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LEE涂层测厚仪
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详情介绍
量程:0-5000μm
适用:测量磁性Fe基体上的非磁性涂镀层和非磁性NFe基体上所有非导电层的厚度
功能:上下限设定、统计、打印、标准偏差等功能
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